參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

粒子密度分布：?jiǎn)挝幻娣e粒子數(shù)≥5000個(gè)/mm2

粒徑均勻性：D50值0.5-5.0μm（CV≤15%）

爆破壓力閾值：1.5-3.0MPa（±0.2MPa）

界面結(jié)合強(qiáng)度：≥8.0N/mm（90°剝離測(cè)試）

熱穩(wěn)定性：250℃/30min后粒徑變化率≤5%

導(dǎo)電性能：各向異性電阻≤1.0Ω·cm

檢測(cè)范圍

異方性導(dǎo)電膠膜（ACF）：包括環(huán)氧樹(shù)脂基/聚酰亞胺基材料

柔性顯示面板：OLED/LCD驅(qū)動(dòng)IC綁定區(qū)域

半導(dǎo)體封裝材料：CSP/BGA封裝用導(dǎo)電膠層

微型連接器：間距≤50μm的FPC連接界面

三維堆疊器件：TSV硅通孔互連結(jié)構(gòu)

檢測(cè)方法

ASTM F3128-2022：微米級(jí)導(dǎo)電粒子分布分析標(biāo)準(zhǔn)

ISO 16232-10:2021：表面污染物定量評(píng)估方法

GB/T 7124-2018：膠粘劑拉伸剪切強(qiáng)度測(cè)定

IPC-TM-650 2.4.18：熱壓結(jié)合界面完整性測(cè)試

GB/T 35104-2017：各向異性導(dǎo)電膜電阻測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射法粒徑分析（0.01-3500μm）

Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍率下粒子計(jì)數(shù)與形貌分析

Instron 5943萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：0.001-30kN壓力精度控制

Agilent B2902A精密源表：10nA-3A/10μV-210V電阻測(cè)量

Thermo Scientific Apreo SEM：場(chǎng)發(fā)射電鏡納米級(jí)界面觀測(cè)

Espec PCT-100壓力蒸煮試驗(yàn)箱：溫度/濕度/壓力三綜合老化測(cè)試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)